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技術數據
F型探頭采用磁(ci)(ci)性(xing)法，可測量磁(ci)(ci)性(xing)金(jin)屬(shu)基礎（如鋼、鐵、合(he)金(jin)和(he)硬磁(ci)(ci)性(xing)鋼等(deng)）上非磁(ci)(ci)性(xing)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等(deng)）。
N型探頭采用渦流法，可測量非鐵磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）和奧氏體不銹鋼上非導電覆蓋層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。
F/N型(xing)探頭（除N400）均可與(yu)時代測厚儀配用
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探頭 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N400 |
N1 |
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測量原理 |
磁性 |
渦流 |
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測量范圍 |
0－400um |
0-1250um |
0-10mm |
0-400um |
0-1250um |
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測量精度
um |
一點(dian)校準(zhun) |
±(3%H+0.7） |
±(3%H+1) |
±(3%H+10) |
±(3%H+1) |
±(3%H+1.5) |
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兩點校(xiao)準(zhun) |
±(1%H+1) |
±(1%H+1) |
±(1%H+1) |
±(1%H+1) |
±(1%H+1.5) |
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低(di)限分(fen)辨率(lv) |
0.1um |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
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最小曲率半徑（凸(tu)） |
1mm |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
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最(zui)小面積直(zhi)徑 |
φ3mm |
φ7 |
φ40 |
φ4 |
φ5 |
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基體(ti)臨界(jie)厚度 |
0.2mm |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
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