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適用于磨料(liao)、涂料(liao)、非金屬礦、化學(xue)試劑、粉(fen)塵、填料(liao)等各(ge)種(zhong)粉(fen)末(mo)顆(ke)粒(li)的粒(li)度測量、形貌觀(guan)察和分析。
工作原理(li)
WKL-702顆粒圖像分析(xi)儀將傳統的(de)顯微測(ce)量(liang)方法(fa)(fa)與現代(dai)的(de)圖像技術相結(jie)合，是(shi)一種(zhong)采用圖像法(fa)(fa)進行顆粒形貌分析(xi)和粒度測(ce)量(liang)的(de)顆粒分析(xi)系統，由光學顯微鏡、數字(zi)CCD攝(she)像(xiang)機(ji)和顆(ke)粒(li)(li)(li)圖像(xiang)處(chu)(chu)(chu)理分析(xi)(xi)軟件組成。該系統通過專用的數字攝(she)像(xiang)機(ji)將顯微鏡的顆(ke)粒(li)(li)(li)圖像(xiang)拍攝(she)下(xia)來傳輸給電腦，通過專用的顆(ke)粒(li)(li)(li)圖像(xiang)處(chu)(chu)(chu)理分析(xi)(xi)軟件對圖像(xiang)進(jin)行處(chu)(chu)(chu)理分析(xi)(xi)，具有(you)直觀、形象、準確和測試范圍(wei)寬等特點。可(ke)以觀察顆(ke)粒(li)(li)(li)形貌(mao)，也可(ke)得到粒(li)(li)(li)度分布等分析(xi)(xi)結(jie)果。
技術參數
測量范圍：1～3000微米(mi)
最大(da)光學放大(da)倍數：1600倍
最大(da)分辨(bian)率：0.1微米/像(xiang)素
準確性誤差：< ±3%(國家標準物質)
重(zhong)復性(xing)偏差：< ±3%(國家標(biao)準(zhun)物質)
數據(ju)輸(shu)出：周長分布(bu)、面積分布(bu)、長徑(jing)分布(bu)、短徑(jing)分布(bu)、周長相(xiang)當(dang)徑(jing)分布(bu)、面積相(xiang)當(dang)徑(jing)分布(bu)、Feret徑分布、長短徑比、中間（D50）、有效粒(li)徑（D10）、限定粒徑（D60、D30、D97）、個(ge)數長(chang)度平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、個(ge)數面積平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、個(ge)數體(ti)(ti)積平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、長(chang)度面積平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、長(chang)度體(ti)(ti)積平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、面積體(ti)(ti)積平(ping)均(jun)(jun)徑(jing)(jing)、不均(jun)(jun)勻系(xi)數、曲率系(xi)數。
配置參數（配置1國產顯微鏡）（配置2進口(kou)顯微鏡）
三(san)目(mu)生物顯微鏡(jing)：平場目(mu)鏡(jing)：10×、16×
消色差物鏡：4×、10×、40×、100× （油(you)）
總放大倍數：40×-1600×
攝像機(ji)：300萬像素數字CCD（標(biao)準C接口鏡(jing)頭）
軟件功能(neng)及報(bao)告(gao)輸出格式
1、可(ke)以對圖像進行(xing)多項處(chu)理:如:影像增強(qiang)、圖像疊(die)加、局(ju)部提取(qu)、定向放大、對比(bi)度、亮度調節等幾十(shi)種功能。
2、具有圓度(du)、曲(qu)線(xian)、周長、面(mian)積(ji)、直(zhi)徑等幾(ji)(ji)十(shi)種幾(ji)(ji)何(he)參數的基本測量。
3、可直接(jie)按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參(can)數，以線性(xing)或非線性(xing)統計方式繪出分布圖(tu)
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