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可測各種規則、不規則的環形工件的圓度(du)(du)(du)、圓柱度(du)(du)(du)、直線度(du)(du)(du)、同心度(du)(du)(du)、同軸度(du)(du)(du)、平(ping)面度(du)(du)(du)、平(ping)行度(du)(du)(du)、垂(chui)直度(du)(du)(du)、表面波紋(wen)度(du)(du)(du)（Wc、Wp、Wv、Wt、Wa、Wq）、頻譜分(fen)(fen)析(xi)、波高分(fen)(fen)析(xi)、偏心、轉(zhuan)彎曲度、跳動量(liang)等。
·高精度(du)的回轉臺采(cai)用空氣靜壓(ya)軸(zhou)承(cheng)結(jie)構，精度(du)高、不磨損、精度(du)保持長久(jiu)、儀器精密(mi)度(du)壽命長。
·數據采集采用德國HEIDENHAIN公司(si)的進口精(jing)密圓光柵，準確度高，穩定性好。
·基于中文版WINDOWS操(cao)作平臺的(de)CA系統測(ce)(ce)量軟件(jian)界面(mian)直(zhi)觀親(qin)切(qie)、操作(zuo)方便、測(ce)(ce)量功(gong)能多。
·自動(dong)識別(bie)輪(lun)廓間斷(duan)，自動(dong)剔除功能(neng)。
·部分圓弧上測量(liang)圓度功能。
·可設(she)置工藝(yi)要(yao)求判別合格(ge)與(yu)否；提(ti)高質量控制的(de)直觀性。
·可選用單個(ge)或多個(ge)測量結(jie)果同頁打印模式。
·具(ju)有強大的分(fen)析(xi)功能、如(ru)直(zhi)線(xian)度、圓柱度、波紋(wen)度分(fen)析(xi)、波高(gao)分(fen)析(xi)、頻譜分(fen)析(xi)等。
·SPC統計(ji)分析：對大量(liang)測(ce)量(liang)數據統計(ji)分析，并給出圖形分析報(bao)告、直(zhi)觀清晰。
·可任(ren)意(yi)選配(pei)各種規格的英國ERNISHAW公司紅寶石測(ce)針。
·可(ke)選(xuan)配告(gao)訴圖形熱敏式打印機，無需人(ren)工抄(chao)錄測量(liang)(liang)數據(ju)，提高測量(liang)(liang)效(xiao)率，杜絕認為抄(chao)錯(cuo)數據(ju)的(de)可(ke)能。
·可選擇多(duo)截面(mian)法和螺旋法進行工件檢測。
·計(ji)算機(ji)(ji)采用的(de)是高質量(liang)，高可(ke)靠(kao)性的(de)工控計(ji)算機(ji)(ji)。
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產品型號 |
CA30L |
CA30H |
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主軸徑向誤差（H=到工作臺檢測高度） |
±（0.025+5H/10000）μm |
±（0.025+5H/10000）μm |
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主軸軸向誤差（X=到主軸中心的距離） |
±（0.03+6X/10000）μm |
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工作臺有效直徑、承載 |
Φ150mm、承重20kg |
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工作臺調整范圍 |
調偏心±2mm;調水平±1° |
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最大測量直徑 |
250mm（可擴展） |
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Z軸導軌移動直線度 |
1μm/100mm |
0.5μm/100mm |
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回轉軸線與Z軸導軌平行度 |
2μm/300mm（母線基準） |
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最大測量高度 |
300 mm（可擴展） |
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最大檢測深度 |
使用標準探針：100mm（孔徑大于36mm時）；40mm（孔徑介于12mm-36mm時）；非標支架最大可測500mm深（選配） |
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傳感器參數 |
分辨率0.01μm：量程500μm(半徑查)，程控放大，高斯濾波；鈦合金側干；寶石球側頭 |
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其他 |
主軸轉速 |
5rpm |
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數據采樣 |
進口精密圓光柵采樣3600點/轉；配備工業計算機，圓柱度測量截面個數可設置 |
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標準附件 |
玻璃半球，標準圓柱體，標準橢圓件，標準測頭及測桿，隨機光盤（可一鍵恢復系統），常用工具一套 |
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可選配件 |
精密三撾卡盤，寶石測針，熱敏式打印機，精密電源等 |
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主機尺寸 |
800×500×1150mm |
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安裝要求 |
電源 |
220~240V AC50HZ，單獨地線；最大功率消耗450W |
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壓縮空氣 |
純凈壓縮空氣：氣壓0.4MP，消耗0.1m3/min(氣源供給0.6MP，0.25m3/min以上) |
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環境要求 |
工作溫度：10°~30°（常溫）；濕度20-80%RH（五結露），良好地線，無明顯振源 |
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產品型號 |
CA60L |
CA60H |
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主軸徑向誤差（H=到工作臺檢測高度） |
±（0.125+5H/10000）μm |
±（0.125+3H/10000）μm |
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主軸軸向誤差（X=到主軸中心的距離） |
±（0.03+4X/10000）μm |
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工作臺有效直徑、承載 |
Φ150mm、承重20kg |
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工作臺調整范圍 |
調偏心±2mm;調水平±1° |
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最大測量直徑 |
250mm（可擴展） |
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Z軸導軌移動直線度 |
0.5μm/100mm |
0.35μm/100mm |
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回轉軸線與Z軸導軌平行度 |
1.5μm/300mm（母線基準） |
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最大測量高度 |
300 mm（可擴展） |
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最大檢測深度 |
使用標準探針：100mm（孔徑大于36mm時）；40mm（孔徑介于12mm-36mm時）；非標支架最大可測500mm深（選配） |
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傳感器參數 |
分辨率0.01μm：量程500μm(半徑查)，程控放大，高斯濾波；鈦合金側干；寶石球側頭 |
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其他 |
主軸轉速 |
5rpm |
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數據采樣 |
進口精密圓光柵采樣3600點/轉；配備工業計算機，圓柱度測量截面個數可設置 |
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標準附件 |
玻璃半球，標準圓柱體，標準橢圓件，標準測頭及測桿，隨機光盤（可一鍵恢復系統），常用工具一套 |
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可選配件 |
精密三撾卡盤，寶石測針，熱敏式打印機，精密電源等 |
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主機尺寸 |
800×500×1150mm |
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安裝要求 |
電 源 |
220~240V AC50HZ，單獨地線；最大功率消耗450W |
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壓縮空氣 |
純凈壓縮空氣：氣壓0.4MP，消耗0.1m3/min(氣源供給0.6MP，0.25m3/min以上) |
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環境要求 |
工作溫度：10°~30°（常溫）；濕度20-80%RH（五結露），良好地線，無明顯振源 |
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產品型號 |
CA35 |
CA65 |
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主軸徑向誤差（H=到工作臺檢測高度） |
±（0.035+5H/10000）μm |
±（0.02+3H/10000）μm |
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主軸軸向誤差（X=到主軸中心的距離） |
±（0.03+6X/10000）μm |
±（0.03+6X/10000）μm |
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工作臺有效直徑、承載 |
Φ220mm（可(ke)擴展）、承重(zhong)40kg |
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工作臺調整范圍 |
調偏心±3mm;調水平±1.5° |
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最大測量直徑 |
400mm（可擴展） |
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Z軸導軌移動(dong)直線度(du) |
0.5μm/100mm |
0.35μm/100mm |
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回轉軸線(xian)與Z軸(zhou)導軌(gui)平行度 |
2μm/400mm（母線基準） |
1.5μm/650mm（母線(xian)基準） |
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最大測量高度 |
450 mm |
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最大檢測深度 |
使(shi)用標準探針：100mm（孔徑(jing)大于36mm時(shi)）；40mm（孔徑(jing)介于(yu)12mm-36mm時(shi)）；非標(biao)支架最(zui)大可測500mm深（選配） |
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產品型號 |
CA90 |
CA95 |
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主軸徑向誤(wu)差（H=到工作臺檢測高度） |
±（0.035+5H/10000）μm |
±（0.20+3H/10000）μm |
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主軸(zhou)軸(zhou)向誤差（X=到主軸中心的距離） |
±（0.03+6X/10000）μm |
±（0.03+6X/10000）μm |
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工作臺有效直徑、承載 |
Φ320mm（可擴(kuo)展）、承重80kg |
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工作臺調整范圍 |
調(diao)偏心±3mm;調水平±1.5° |
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最大測量直徑 |
500mm（可擴展） |
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Z軸導軌移動直(zhi)線度 |
0. 5μm/100mm |
0.35μm/100mm |
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回轉軸線與(yu)Z軸導軌平行度 |
2μm/650mm（母線基準） |
1.5μm/650mm（母線基準(zhun)） |
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最大測量高度 |
650mm |
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最大檢測深度 |
使用標準探針：100mm（孔徑大(da)于36mm時）；40mm（孔(kong)徑介于12mm-36mm時）；非標支架最大可(ke)測500mm深（選配） |
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產品型號 |
CA120 |
CA125 |
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主軸徑向誤差（H=到工作臺檢測高度） |
±（0.04+5H/10000）μm |
±（0.02+3H/10000）μm |
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主軸軸向誤差（X=到主軸中心的距離） |
±（0.03+6X/10000）μm |
±（0.03+6X/10000）μm |
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工作臺有效直徑、承載 |
Φ320mm（可(ke)擴展）、承重120kg |
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工作臺調整范圍 |
調偏心±3mm;調水平±1.5° |
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最大測量直徑 |
500mm |
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Z軸導軌移動直線度 |
0.5μm/100mm |
0.35μm/100mm |
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回轉軸線與Z軸導軌平行度 |
2μm/650mm（母線基準） |
1.5μm/650mm（母線基準） |
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最大測量高度 |
650 mm |
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最大檢測深度 |
使用標準探針：100mm（孔徑(jing)大于36mm時）；40mm（孔徑介(jie)于12mm-36mm時(shi)）；非(fei)標(biao)支(zhi)架最大可(ke)測500mm深（選配） |
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